FET選別治具のリニューアル

FETの選別には以前製作した治具(じぐ)を使っていたのだけど、手を近づけると値が変動する(ボディエフェクト)、ICクリップでFETを接続するのが手間などの問題があった。そこでZIF(ゼロプレッシャー)ソケットを使ってリニューアルすることにした。参考にした元記事(FET & CRD選別冶具(改訂版))はこちら。


FET_measurement_tool1.jpg
100円ショップのタッパーを使って基板上にパーツを並べる。ZIFソケットにホコリが入るのを防ぐために内蔵させる。ACアダプタも一緒に収納する。私は電流調整をロータリーSWでなくボリュームのままとした。


FET_measurement_tool_jittaizu.jpg
基板の実体図(もどき)を描いた。


FET_measurement_tool2.jpg
組み上がった基板。


FET_measurement_tool3.jpg
基板の裏側。実体図を左右逆にして(裏面から見た図)印刷しなかったら間違えまくり。


FET_measurement_tool4.jpg


FET_measurement_tool5.jpg
組み込んでプリンタで印刷したラベルを貼り付けた。タッパーにはアルミテープを貼って簡易シールドとした。銅箔テープを貼って確実にGNDへ落ちるようにしてある。


FET_measurement_tool_schematic.gif
回路図と実測の電圧を赤字で示す。


FET_measurement_tool6.jpg
収納時にはこのように出っ張りが無いので積み重ねできる。


FET_measurement_tool7.jpg
フタを取ったところ。ACアダプタとICクリップが入っている。


FET_measurement_tool_manual.jpg
使い方を書いた紙を入れてある。


FET_measurement_tool8.jpg
測定にはこのようにDC12VのACアダプタとDMMを接続する。竹ピンセットはFETの温度変化を避けるため。FETはすこし足を広げないとZIFソケットに入らない。


FET_measurement_tool9.jpg
ICクリップでの測定はこのようにする。


FET_measurement_tool10.jpg
最近入手した20個の2SK117BLを測定する。まずSW1を上(Id)、SW2を下(可変)でバイアス電流の設定(200mVは2.0mA)


FET_measurement_tool11.jpg
SW1を下(bias)にしてVGS電圧を測定する。画像では-0.274V。


FET_measurement_tool12.jpg
SW1を上(Id)、SW2を上(Idss)にしてIdssの測定(0.712Vは7.12mA)。LEDが光る。


2SK117BL_selection1.gif
測定結果。4個のペアが2組、2個のペアが4組取れることがわかる。

手を近づけると1mV~2mV程度変動するが、測定には全く影響しない。

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